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特徴
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最大8素子までのチップ抵抗器を超高速かつ高精度で測定し、判定を行う多連チップ抵抗器専用の測定器です。素子のばらつきをチェックするトラッキング機能を標準装備し、50VでのIRチェック・コンタクトチェック・上下限判定を同時に行います。さらにスキャナ回路は、半導体リレーによるメンテナンスフリーを実現しました。
仕様
測定部仕様
- 測定範囲および確度
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温度23℃±5℃における数値 STANDARD設定値 測定電流 表示範囲 確度 1.00Ω〜9.99Ω 20mA ±9.99% ±0.05%±2digit以内 10.0Ω〜99.9Ω 10mA 100Ω〜999Ω 10mA 1.00kΩ〜9.99kΩ 1mA 10.0kΩ〜100kΩ 100μA α±2digit以内 101kΩ〜1.00MΩ 10μA ±0.2%±2digit以内 1.01MΩ〜5.00MΩ 1μA β±5digit以内 (mΩcheck) 20mA 0〜999mΩ ±0.2%±2digit以内 α:±0.05%±(設定値kΩ/10)×0.01% β:±0.3%±(設定値MΩ/20)%
※精度は被測定物を完全シ−ルドした状態での数値です。 - 測定方式
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- 2端子4端子自動切換 OFF の場合
- 全レンジ4端子測定方式
- 2端子4端子自動切換 ON の場合
- 100kΩ(STANDARD)以下 4端子測定方式
- 101kΩ(STANDARD)以上 2端子測定方式
※(自動切換ONの場合 101kΩ以上はコンタクトチェック動作は自動的にキャンセルされます)
※(1.01MΩ以上は2端子測定になり、コンタクトチェック機能はOFFになります) - コンタクトチェック機能
- ON/OFF切換
- 判定値設定範囲
- 上限・下限
±0.00%〜±9.99%
※mΩcheckの場合は 000mΩ〜999mΩ
スキャナ部仕様
- チャネル数
- 4ch(標準) 8ch(オプション)
- チャネル表示
- 1桁
- トラッキング設定範囲
- 0.00〜9.99%(最大値−最小値)
- 絶縁印加電圧
- 50V
- 絶縁判定レベル
- 100kΩ〜20MΩ可変
- 絶縁判定精度
- ±5%
- 判定表示
- コンタクトチェックLED(GO・NG)
絶縁チェックLED(GO・NG)
抵抗値チェックLED(GO・NG) トラッキングチェックLED(GO・NG)
共有仕様
- 測定時間
- (トラッキングON IRチェックON)
- 100kΩ以下
- 約1msec+1.1msec×Nch
[1ch当りの測定時間×ch] - 101kΩ以上
- 約1.7msec+2.3msec×Nch
[1ch当りの測定時間×ch]
- 入出力信号
-
- 入力信号
- =START
- 出力信号
- =EOC(測定終了)、IR NG(絶縁不良)
R NG、TOTAL GO
TOTAL NG、コンタクト NG
オープンコレクタ出力 - 使用環境
- 温度:0℃〜+50℃
湿度:85%以下 - 外形寸法
- 328(W)×145(H)×306(D)mm(ゴム足等の突起物は含みません)
- 電源
- AC 100V 50/60Hz 約30VA
- 重量
- 約6.8kg
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